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電沉積納米合金工藝及特性(下)

放大字體  縮小字體發布日期:2013-04-07  瀏覽次數:2207
核心提示:目前,已經對電沉積納米合金技術進行了很多研究,并得到大量的應用。至今,已經制備了很多納米合金,納米合金的性能與通常的合金相比具有很多優異的特性。

四、電沉積C0—Ni納米合金工藝及特性

C0—Ni合金是應用比較廣泛的一種合金,多用于裝飾性、耐蝕性和磁|生材料,如磁性記錄裝置等。

Qia0和Jin9等人采用高速噴射電沉積的方法制備了C0—Ni納米合金,并用XRD和TEM等測定了鍍液及鍍層的性能。試驗表明:當增加鍍液中c02+離子的含量i增加噴射速度和提高陰極電流密度以及降低鍍液的溫度,都能提高合金鍍層中的鈷含量。噴射電沉積具有高的沉積速度,并能細化晶粒,這是由于噴射電沉積可以使用高的電流密度,在陰極上能得到高的過電勢。

噴射電沉積使用的陰極為純銅99.9%,面積為20mmX20mm×0.5mm;用蒸餾水和乙醇清洗;陽極為高純度鎳板99.9%和鈷板99.9%,噴嘴直徑為5mm,噴射電沉積的時間為lomin~15min。

電解液組成及工藝條件,見表4—9—2。

表4—9—2電解液組成及工藝條件

電解液組成及工藝條件

當電解液中鎳離子濃度一定時,鉆離子濃度變化對鍍層成分含量的影響,隨電解液中C0“/Ni“比的增加,合金鍍層中鈷含量增加。

陰極電流密度對合金組成也有一定影響,表4—9—2中的2號和3號電解液,隨陰極電流密度的增加,合金鍍層中的鈷含量降低。

電沉積過程中電解液溫度對合金鍍層中鈷含量的影響,隨電解液溫度的升高,合金鍍層中的鉆含量下降。

在電解液中C02+/Ni2+比對形成晶粒尺寸的影響,見圖4—9—10。隨電解液中C0“/Ni“比的增加,電沉積的晶粒尺寸減小,從24nm降至l4nm。

陰極電流密度對電沉積晶粒大小的影響,隨陰極電流密度的增加,晶粒尺寸減小,但陰極電流密度對3號電解液的影響比2號電解液要明顯得多,當陰極電流密度增大至480A/dm2左右時,在3號電解液中可得到晶粒尺寸約5nm的C0—Ni合金。

電解液噴射速度對晶粒尺寸的影響,隨噴射速度的增加,晶粒尺寸減小。

在不同C0“含量條件下,c0—Ni合金鍍層的XRD圖譜,見圖4—9—11,使用的電流密度為318A/dm2,工作溫度為40℃,噴射速度為390din3/h。

由圖4—9—11可以看出:當c0“的濃度低于0.09mol/L(CoS0。·7H:0259/L)時,沉積層是單相fee0【相,如圖4—9—11(a)。隨鈷含量的增加,逐漸出現六方緊密晶系(hep),而fcc相大量減少。例如:當沉積層組成增加到質量分數60.39%±l.58%(CoS0。·6H:0)時,沉積層的晶體結構從fccd相變化到混相(fcc+hcp)。當C0含量繼續增加,則hop相逐漸出現,fcc相逐漸減少(見圖4—9—1l(C))。比較圖4—9—11的(c)和(d)的XRD圖譜,可以看出(d)的峰明顯變寬((d)中加入59/L糖精),這也說明電解液中加入糖精會明顯降低晶粒尺寸的細度。

電解液中C02+/Ni2+比與形成晶粒尺寸的關系

圖4—9—10電解液中C02+/Ni2+比與形成晶粒尺寸的關系(電解液組成見表4—9—2,1號)

不同C02+含量的C0—Ni合金沉積層的XRD圖譜

圖4—9一ll不同C02+含量的C0—Ni合金沉積層的XRD圖譜(a)0.09mol/L;(b)0.12mol/L;(c)0.21;(d)0.21;添加劑59/L。

總之:①由試驗得知,隨陰極電流密度增加、c02+濃度增加和噴射速度增加時,鍍層中鈷含量也增加;當降低電解液溫度也使鈷含量增加;②通過噴射電沉積得到的c0—Ni合金層,XRD圖譜表明:含C0量低的c0—Ni合金晶體結構為fcc相,若c0含量超過60.39%,則合金晶體結構包含兩種,即面心立方晶體相fee和六方緊密相hcp;③增加電解液中C02+濃度和提高陰極電流密度時,都有利于細晶的形成。、

五、電沉積Ni—Cu納米合金工藝及特性

過去Ni—cu合金主要用作裝飾性鍍層,最近研究發現它具有良好的機械性、耐蝕性、電性能和催化性能,特別是含cu質量分數30%的Ni—cu合金,它在海水中、酸、堿介質和一些氧化性及還原性環境中都有很高的穩定性。

由于Ni和Cu的還原電勢相差較大,要達到共沉積需加入適當的配合劑,研究發現檸檬酸或檸檬酸鹽是很好的配合劑,毒性小,較便宜,且能得到質量好的合金鍍層。但用直流電鍍時間較長時,會出現鍍層表面粗糙。采用脈沖技術,可降低孔隙率、內應力、雜質和氫含量,也容易控制電解液的組成。Ghosh等人用脈沖電沉積制備了Ni—cu納米合金,并測定了鍍層性能。其工藝如下:

硫酸鎳(NiS0。·7H:0)0.475moL/L,硫酸銅(CuS0。·5H:O)0.125moL/L,檸檬酸鈉0.20mol/L,pH值=9.0(用氨水調),電解液較穩定,但溫度高于40。C時,電鍍兩三批鍍件后,電解液變得不夠穩定。陽極用鎳網,陰極是鈦上鍍鉑,使用方波脈沖電鍍。鍍層組成測定用化學法(碘量法),斷面用原子吸收光譜法(AAS)測定,鍍層硬度測定的試樣厚度為151山m~20i山m,硬度計載荷為509。’脈沖參數:峰值電流密度i。,平均電流密度i。,導通時間0。,斷開時間02,占空比(OI/0:)%,脈沖頻率^

(1)脈沖頻率對合金鍍層中cu含量及電流效率的影響,隨脈沖頻率的增加,合金鍍層中cu含量下降,而電流效率上升。、

(2)脈沖峰值電流密度對電流效率和鍍層中Cu含量的影響,隨峰值電流密度增加,電流效率增加,但鍍層中cu含量下降。

(3)脈沖導通時間對電流效率和鍍層中cu含量的影響,導通時間延長,使鍍層中cu含量降低,也使電流效率降低。

(4)脈沖斷開時間對電流效率和鍍層中cu含量的影響,隨斷開時間的增加,鍍層中Cu含量上升,而電流效率下降。

(5)電鍍過程中工作溫度變化對電流效率和鍍層中cu含量的影響,隨工作溫度增加,電流效率有所上升至60℃時平穩,而鍍層中Cu含量開始增加很快,至40℃以后,上升較平穩。

(6)電解液中pH值對電流效率和鍍層中cu含量的影響,隨pH值的增加,鍍層中cu含量上升,而對電流效率影響較小。

用掃描電鏡SEM觀察Ni—cu合金表面形貌,見圖4—9—12。

電沉積Ni—cu合金的SEM圖像

圖4—9—12電沉積Ni—cu合金的SEM圖像

(a)直流鍍,電流密度=2A/dm2,pH值=9.o;(b)脈沖鍍,i。=20A/dm2,la=2A/dm20r=100Hz;

(c)脈沖鍍,lp=20A/dm2,la=4A/dm2/=100Hz,pH值=9.O;‘(d)脈沖鍍,Ip=20A/dm2,la=4A/dm2,f=50Hz,pH值=9.0;(e)脈沖鍍,‘=20A/dm2,‘=2A/dm2,=100Hz,pH值=9.5。適當的調整脈沖參數就可以得到表面光亮的銀白色Ni—Cu合金鍍層,但采用直流鍍(,=2A/

dm2)得到的鍍層表面為多瘤狀,如圖4—9—12(a)。若采用脈沖鍍,平均電流密度和直流相同(2A/dm2)時,則得到的鍍層平整光亮,如圖4—9—12(b),即使在較高的電流密度(4A/dm2)下如圖4—9一l2(C),表面形態也沒有明顯的變化;當,a=4A/dm2和廠=50Hz時,開始有球狀物生長,如圖4—9—12(d),當pH值更高等于9.5時表面較粗糙,但仍比直流好。

六、電沉積納米C0—Ni—Fe合金工藝及特性

隨著電子工業的迅速發展。對磁記錄密度的要求也越來越高,磁芯頭材料是當前最急需的。c0—Ni—Fe合金具有很高的飽和磁化通密度(B。)和低的矯頑力(H。),C0貸Ni。。Fe:,對發展軟磁性材料,具有很大的吸引力,該膜的飽和磁通密度為B。=2.1T,矯頑力為H。=1.20e,這種特性對磁記錄頭來說是非常需要的。最近研究用電沉積法可得到c0—Ni—Fe軟磁膜,其平均晶粒尺寸接近10nm,晶體結構為面心立方晶系和體心立方晶系(fcc—bcc)混相組成。

Nakanishi等人用脈沖電沉積法在旋轉圓盤電極上制得了c0—Ni—Fe納米晶軟磁薄膜,膜厚1斗m;w采用Cu片,直徑loram,厚8斗m。對電極用Pt線,參比電極為A9/igCl。

電解液組成:硫酸鈷0.063mol/dm3,硫酸鎳0.2tool/拼,硫酸亞鐵0.012mol/dm3,氯化銨0.28mol/dm3,硼酸0.41洲dIIl3,十二烷基硫酸鈉0.019/dm3,化學藥品為試劑級。工作溫度為室溫,pH值=2.8。

脈沖參數:圓盤電極轉速1000r/min,脈沖周期(p。+眈)=0.1s。

C0—Ni—Fe納米膜特性研究:采用x射線熒光分析(XRF)膜的組成,結構特性用X射線衍射(XRD)分析、透射電鏡(rIEM)分析和高能投射電子衍射(TF爪FD)分析。平均電流密度對電沉積C0—Ni—Fe合金膜的組成的影響,見圖4‘一9—13。當占空比為0.3~1.0時j得到的C0—Ni—Fe合金中隨平均電流密度增加,Fe含量有所降低,C0含量有所上升,膜的組成基本不變,為c0∞Ni。Fe拍,其結構組成是面心立方晶系和體心立方晶系(fcc—bcc)的混合相。

在不同占空比時,脈沖電沉積薄膜的XRD圖譜,見圖4—9—14,由圖可看出:膜組成仍保持不變為c0。3Ni。,Fe26,其相對峰強度bcc(110)和fcc(111),隨工藝條件變化而變化,當2p在54。至60。范圍內,bcc(110)和fcc(111)兩峰部分重疊和bcc(110)和fcc(111)優先取向比較明顯。

平均電流密度對膜組成的影響

圖4—9—13平均電流密度對膜組成的影響(方塊,菱形和黑圈分別表示c0一,Fe一,Ni一的含量、占空比=0.3一I.O,i。=-40mA/cm2一-40mA/cm2)

脈沖電沉積C0—Ni—Fe合金薄膜的TEM圖像,見圖4—9—15,表明在薄膜中的晶粒大小基本相同為<10nm。

不同占空比條件下,c0—Ni—Fe合金膜的XRD圖譜

圖4—9—14不同占空比條件下,c0—Ni—Fe合金膜的XRD圖譜(i。=-20mA/cm2,從Cu基體行上去掉的峰值)

電沉積C0—Ni—Fe合金薄膜的TEM圖像

圖4—9—15電沉積C0—Ni—Fe合金薄膜的TEM圖像(占空比--40.5,i。=一10mA/cm2)

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